MI-alapú gépi látás

Automatizált vizuális ellenőrzés, amely soha nem pislog

Az MSF gépi látás mélytanulást használ, hogy termelési sebességgel ellenőrizze termékei 100%-át — felismerve azokat a felületi hibákat, összeszerelési tévedéseket és méreteltéréseket, amelyeket az emberi szem nem vesz észre.

Demó kérése PoC indítása

Legfontosabb jellemzők

HibafelismerésKarcolások, repedések, foltok, hiányzó elemek — ezredmásodpercek alatt felismerve mélytanulási modellekkel.

100%-os inline ellenőrzésMinden egyes alkatrész ellenőrzésre kerül a gyártósor sebességével, nem csak mintavétellel.

Összeszerelés-ellenőrzésEllenőrizze a megfelelő alkatrészeket, tájolást és teljességet, mielőtt a termék a következő állomásra kerülne.

OCR és kódolvasásOlvassa be a sorozatszámokat, dátumkódokat és címkéket az automatikus nyomon követhetőséghez.

Önmagukat tanuló modellekA modellek folyamatosan javulnak, ahogy a kezelők megerősítik vagy javítják a besorolásokat.

Minőségi integrációAz eredmények táplálják az MSF minőségügyi modul SPC-kártyáit, és automatikus NCR-eket indítanak el.

Dedikált GPU Vision szerverA helyszíni MI-következtető szerver (NVIDIA RTX 5090 kategória, vállalati H200 opció) valós időben 8–10 kamera-adatfolyamot kezel — alacsony késleltetéssel, felhőfüggőség nélkül, 10GbE-kompatibilisen.

Mérhető eredmények

100%Ellenőrzött alkatrész

-90%Kiszűretlen hiba

msEllenőrzési sebesség

24/7Egyenletes minőség

Gyakran ismételt kérdések

Hány mintaképre van szükség?

A modern few-shot modellek gyakran néhány száz képpel indulnak; a rendszer a termelés során is folyamatosan tanul.

Speciális kamerákra van szükség?

Az ipari kamerákat és megvilágítást alkalmazásonként választjuk ki — a teljes megtervezett állomást leszállítjuk.

Mi van, ha a termékek gyakran változnak?

Az új változatok gyorsan betaníthatók a meglévő modellekből — ideális a nagy termékváltozatosságú gyártáshoz.

MI-alapú gépi látás

Legfontosabb jellemzők

Mérhető eredmények

Gyakran ismételt kérdések

További cikkek

Kapcsolódó termékek

Készen áll gyára potenciáljának megismerésére?